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注：表中的黑度均指不包括灰雾度的净黑度。 2. 观片灯最大亮度和照耀后的底片亮度规则 在射线底片上能否辨认或许辨认出缺陷或像质计的形象，取决于形象在底片上形 成的黑度差△D(即照相比照度)与间隔辨认比照度△Dmin之间的联络。所谓的间隔 辨认比照度是指能被观片者所辨认的最小黑度差。当运用亮度为L0的观片灯时，对应于线径为d的金属丝的形象比照度△D与该亮度下的间隔辨认度△Dmin的联络如图2-1 所示的两条黑实线；当选用亮度为)('0''0''0LLL＞的观片灯时，△D的数值不变，而该亮度下的间隔辨认度△Dmin成为如图2-1所示的虚线。这也就是说，当观片灯亮度增加时，能辨认的底片黑度规划拓展了。查看效果当然也非常好些。 由于修订后的JB/T 4730标准对底片黑度的上限值的规则有较明显跋涉(一般来说选用亮度较大的观片灯有助于黑度较大底片的判定)，而现在许多的观片灯最大亮度达不到底片判定规划内的亮度不低于30cd/m2的央求，因此作为一种折中，本标准对底片判定规划内的亮度分段进行考虑： 当底片判定规划内的黑度D≤2.5时，透过底片判定规划内的亮度应不低于30cd/m2； 当底片判定规划内的黑度D>2.5时，透过底片判定规划内的亮度应不低于10cd/m2。 3. 黑度计(光学密度计) 黑度计是对底片黑度进行测量的首要设备，本标准规则黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的过错应不跨过±0.05。最少每6个月校验一次。黑度计可按照出产厂推荐的方法或下面的方法进行守时校验。 ① 用标准黑度片(密度片)的零黑度点(区)校准黑度计零点，校准后依次测量黑度片上不一样黑度的各点的黑度，记载测量值。按规则应重复测量三次。 ② 核算出各点测量值的均匀值，以均匀值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量过错。 ③ 对黑度不大于4.5的各点的测量过错均应不跨过±0.05，否则黑度计应校准、修补或报废。 ④ 所运用的标准黑度片最少应每2年送计量单位检定一次。 4. 像质计 像质计是操控射线透照质量必不可少的东西。现在，世界上通用的像质计一般有五类：单丝式线型像质计、双丝式线型像质计、平板式孔型像质计、阶梯板式孔型像质计和槽型像质计。JB/T 4730标准首要选用单丝式线型像质计，运用可辨认的最细丝径d来核算相对灵敏度，见式(2.1)。
%100/dSW ,,,,,,,,,,(2-1) 式中： SW——线型像质计的相对灵敏度； δ——被透工件厚度。 单丝式像质计具仃绀构简略、制造便利、运用可靠等利益，能精确地测定比照度。的改动情况。但也具有必定的局限性，首要有： ① 对底片上能辨认的最细钢丝的判定，没有一个定量的规则，因此存在必定的人为主观性； ② 像质计指示值与裂纹类危险性缺陷的检出率对应性较差； ③ 对影响不清晰度参数的改动不灵敏； ④ 透照焦距和射线能量发生改动时，像质计灵敏度和实习缺陷检出率的改动不相一同。 从上世纪60年代以来，许多研讨者致力于研讨开发新式像质计。如1989年罗马尼亚的P.Ciorao提出的用不锈钢片制造的简式狭槽型就是一种比照好的像质计。其灵敏度用式2-2标明： %100/minIQIrpsCtttdS ,,,,,,,,(2-2) 式中： mind——可见最小槽深度，mm； spt ——件厚度，mm； rt ——对接焊接接头余高，mm； IQIt——像质计厚度，mm； CS——狭槽型像质计相对灵敏度，100%。 跟着科学技术的翻开，完全有理由信赖，能非常好、更精确地操控射线查看灵敏度的像质计必定会在不久的将来面世，并在标准中得到反映。 5. 线型像质计的资料 一般说来，被透照设备的资料应与线型像质计的资料相一同，才调取得较好的查看效果。但由于现在承压设备用材比照杂乱，一些新的钢种和资料不断涌现，给线型像质计的运用规划带来失调。当某种资料的像质计用来查看其他资料的对接焊接接头时，如不能判定是不是合适，建议选用下述方法进行判定(这也是ASME的规则)：取两块与被检设备厚度大体相当的试块(一块与被透照设
%100/dSW ,,,,,,,,,,(2-1) 式中： SW——线型像质计的相对灵敏度； δ——被透工件厚度。 单丝式像质计具仃绀构简略、制造便利、运用可靠等利益，能精确地测定比照度。的改动情况。但也具有必定的局限性，首要有： ① 对底片上能辨认的最细钢丝的判定，没有一个定量的规则，因此存在必定的人为主观性； ② 像质计指示值与裂纹类危险性缺陷的检出率对应性较差； ③ 对影响不清晰度参数的改动不灵敏； ④ 透照焦距和射线能量发生改动时，像质计灵敏度和实习缺陷检出率的改动不相一同。 从上世纪60年代以来，许多研讨者致力于研讨开发新式像质计。如1989年罗马尼亚的P.Ciorao提出的用不锈钢片制造的简式狭槽型就是一种比照好的像质计。其灵敏度用式2-2标明： %100/minIQIrpsCtttdS ,,,,,,,,(2-2) 式中： mind——可见最小槽深度，mm； spt ——件厚度，mm； rt ——对接焊接接头余高，mm； IQIt——像质计厚度，mm； CS——狭槽型像质计相对灵敏度，100%。 跟着科学技术的翻开，完全有理由信赖，能非常好、更精确地操控射线查看灵敏度的像质计必定会在不久的将来面世，并在标准中得到反映。 5. 线型像质计的资料 一般说来，被透照设备的资料应与线型像质计的资料相一同，才调取得较好的查看效果。但由于现在承压设备用材比照杂乱，一些新的钢种和资料不断涌现，给线型像质计的运用规划带来失调。当某种资料的像质计用来查看其他资料的对接焊接接头时，如不能判定是不是合适，建议选用下述方法进行判定(这也是ASME的规则)：取两块与被检设备厚度大体相当的试块(一块与被透照设备的资料相一同，另一块与像质计资料相一同)，将其在同一张胶片上，以产品射线照相的合适能量等级进行一次曝光照相，底片上两种资料的黑度规划(一般应取在黑度比照均匀的试块中心部位)应在1.5～4.0之间，假如被透照设备的资料黑度和制造像质计资料黑度的比值在1～0.87之间，那么被透照设备资料可以选用该种资料制造的像质计进行射线照相查看。 6. 对接焊接接头的表面质量(包括对接焊接接头余高)的央求 在射线查看之前，对接焊接接头的表面应经外观查看并合格。表面的不规则情况在底片上的形象不得掩盖或干扰缺陷形象，否则应对焊接接头表面进行修磨。 ①对接焊接接头的表面缺陷(如咬边、凹坑、沟槽等)将直接反映在底片上，一般掩盖了对接焊接接头内的缺陷使之漏检；或是构成伪缺陷，给缺陷的判定、分级和返修带来很大困难。如曾在某厂就发现过好几起类似的现象，当时在底片上某丁字缝发现一条黑色形象，很像裂纹，经两次返修后缺陷仍然存在，经实地查看，发现
图2-3 观片环境亮度对缺陷或像质计图像辨认的影响 三、 承压设备熔化焊对接焊接接头射线查看质量分级 1. 钢对接焊接接头射线查看计划 跟着国内练习、轧制和铸造才调的不断翻开，厚壁对接焊接接头的焊接技术(如窄空位焊等)取得广泛的推广应用，从而使厚壁容器等的制造水陡峭国产化取得重大突破，煤化工运用的单台热壁加氢反应器(锻焊结构)的分量已跨过2000t，壁厚跨过336mm。但GB 3323—87标准规则的钢对接焊接接头查看计划只需2mm～200mm，JB 4730—94标准的查看上限也只需250mm，使得有些壁厚跨过250mm的对接焊接接头的射线查看没有标准可依，有时只能选用国外的一些相关企业标准，给国内厚壁压力容器制造业带来很大困难。 现在，世界上一些抢先标准对查看厚度计划是这么规则的： BS 2600标准为2mm～200mm；ISO标准为2mm～200mm；DIN 54111标准为2mm～200mm(可达300mm以上)；JIS z3104标准为2mm～500mm。 在标准修订中，既考虑了实习出产的需求，一同也细心研讨了拓展查看厚度的可行性(如透照能量、像质计、胶片质量、等级分类等)，本标准规则对钢对接焊接接头查看计划为2mm～400mm，根柢上满足了国内出产的实习需求。 2. 钢对接焊接接头射线查看质量等级的差异 钢对接焊接接头质量等级的判定与承压设备所承受载荷的性质、大小、温度、介质以及环境条件有关。对接焊接接头中存在缺陷，强度必然会下降，其下降的程度一般因载荷性质不相同而具有很大差异。实验数据标明，除低应力开裂这种格外情况外，一般由静载荷致使的对接焊接接头强度下降远远小于冲击和往复动载荷致使的对接焊接接头强度下降。因此，JB/T 4730中钢对接焊接接头射线查看质量等级首要是根据由缺陷致使的疲劳强度下降程度来判定的，一同根据实习运用需求，将其分为四个等级。 Ⅰ级对接焊接接头：对疲劳强度央求很高的对接焊接接头。一般是指核能、超高压或作业介质为剧毒物质的承压设备对接焊接接头，以及承受很大静载荷、动载荷和交变载荷的对接焊接接头(格外是在循环不对称交变载荷效果下的对接焊接接头)。由于这类对接焊接接头对疲劳强度央求恰当高，因此一般应选用较高的质量等幺圾(即Ⅰ级)。此外由于余高的存在将使疲劳强度明显下降，所以选用I级作为合格等级的对接焊接接头一般不保存余高。 Ⅱ级对接焊接接头：对疲劳强度有必定央求的承压设备对接焊接接头，即高压或作业介质为有害气体对接焊接接头、以及承受较大动、静载荷或有限循环次数交变载荷的对接焊接接头。一般可以保存余高。 Ⅲ级对接焊接接头：根柢不考虑疲劳强度的对接焊接接头，首要包括低压或作业介质为无害气体的对接焊接接头，以及一般只承受静载荷的对接焊接接头，保存余高。 Ⅳ级对接焊接接头：不合格的对接焊接接头，即无法满足正常运用的承压设备对接焊接接头。
附 录 L (标准性附录) 缺陷类型辨认和性质估判 L.1 缺陷类型辨认 L.1.1 缺陷类型辨认的一般方法 宜选用一种或一种以上声束方向作多种扫查，包括前后、分配、翻滚和环绕扫查等，通过对各种超声信息概括判定来进行缺陷类型辨认。 L.1.2 点状缺陷 L.1.2.1 概述 点状缺陷是指气孔和小夹渣等小缺陷，大多属体积性缺陷。 L.1.2.2 点状缺陷回波特征 回波凹凸较小，探头分配、前后扫查时均闪现动态波形Ⅰ，翻滚扫查时隋况相同。对缺陷作环绕扫查时，从不相同方向、用不相同声束角度勘探，进行声程差修正后，回波高度根柢相同。 L.1.3 线性缺陷 L.1.3.1 概述 有显着的指示长度，但不易测出其断面标准。线性夹渣、线性未焊透或线性未熔合均属这类缺陷。这类缺陷在长度上也可能是接连的，如链状夹渣、断续未焊透和断续未熔合等。 L.1.3.2 回波特征 探头对准这类缺陷前后扫查时一般闪现波形Ⅰ的特征，分配扫查则闪现波形Ⅱ，或许有点像波形Ⅲa。翻滚和环绕扫查时，回波高度在与缺陷平面相垂直方向两头活络下降。只需信号不能显着断开较大距离，则标明缺陷根柢接连。 若缺陷断面大致为圆柱形，只需声束垂直于缺陷的纵轴，作声轴距离修正后，回波高度改动较小。 若缺陷断面为平面状，从不相同方向、用不相同角度勘探时，回波高度在与缺陷平面相垂直方向有显着下降。 断续的缺陷在长度方向上波高包络有显着下降，应在显着断开的方位邻近作翻滚和环绕扫查，如查询到在垂直方向邻近波高活络下降，且无显着的二次回波，则证明缺陷是断续的。 L.1.4 体积状缺陷 L.1.4.1 概述 这种缺陷有可测长度和显着断面标准，如不规矩或球形的大夹渣。 L.1.4.2 回波特征 分配扫查一般闪现动态波形Ⅱ或Ⅲa，前后扫查闪现波形Ⅲa或Ⅲb。 翻滚扫查时，若声束垂直于缺陷纵轴，所闪现的波形颇似波形Ⅲb，一般可查询到最高回波。环绕扫查时，在缺陷轴线的垂直方向两头，回波高度有不规矩的改动。 这种缺陷在方向改动较大，或替换多种声束角度时，仍能被勘探到，但回波高度有不规矩改动。 L.1.5 平面状缺陷 L.1.5.1 概述
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